〜 電子顕微鏡とデータ科学による究極の精密測定 〜
ポイント
・電子顕微鏡とデータ科学を組み合わせることで、局所ひずみを高精度に測定
・0.2%というわずかな局所ひずみをも検出できる精密さを達成
・棒状ナノ粒子には表面形状の曲率変化に起因する約0.5%の局所膨張ひずみが生じることを発見
概要
北陸先端科学技術大学院大学・先端科学技術研究科 応用物理学領域の麻生浩平助教、大島義文教授と、九州大学・大学院工学研究院のJens Maebe大学院生 (修士課程、当時)、Xuan Quy Tran研究員、山本知一助教、松村晶教授は、原子分解能電子顕微鏡法とデータ科学的手法であるガウス過程回帰を組み合わせることによって、ナノメートルサイズの粒子の中のわずか0.2%という局所ひずみを測定できる解析手法の開発に成功しました。開発した手法によって金のナノ粒子を解析したところ、棒状の粒子の内部では、先端付近で長さ方向に0.5%膨張したひずみを見出しました。この膨張ひずみは、粒子の先端部分で表面の形状（曲率）が変化しているために生じたこともわかりました。ナノ粒子の形状に由来して内部に局所ひずみが生じるという新たな発見と、ひずみを精密に捉える新規な手法は、ナノ物質内での原子配列と機能の理解に役立つと期待されます。
本研究成果は、2021年7月7日（米国東部標準時間）に科学雑誌「ACS Nano」誌のオンライン版で公開されました。
本研究は、日本学術振興会（JSPS）科研費基盤研究(B) (25289221、18H01830)と科学技術振興機構（JST）戦略的創造研究推進事業 ACCEL「元素間融合を基軸とする物質開発と応用展開」（研究代表者：北川 宏、研究分担者：松村晶、プログラムマネージャー：岡部 晃博、研究開発期間：2015年8月～2021年3月、(JPMJAC1501)）の支援を受けて行われました。
詳細
九州大学プレスリリースをご参照ください。
